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SmartSEM

用于 SEM、FE-SEM 和 FIB-SEM 的显微镜软件解决方案
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介绍

 

使用 SmartSEM 控制运行参数

根据用户级别在不同 GUI 操作模式之间进行选择:控制运行参数可为不同用户设置软件控制级别。或为临时用户开发的简洁图形用户界面(GUI)将主要操作控制方便地排列在控制栏内,便于运行和提高效率。借助用于综合的图像采集、处理、分析和文档记录的附加模块,可随时轻松扩展功能。

 

特点

 

SmartSEM

    •  采集时或在存储的图像上处理大量信号

    •  使用全标注和测量功能

    •  随时保存操作条件,以供将来重用

    •  使用宏编辑器访问 250 多种仪器控制功能

    •  全方位载物台控制

 

SmartPI

    •  使用 半自动的SmartPI 模块量化、分类和测量颗粒大小、形状、表面形态及元素组分

    •  可在生产、配置和报告模式之间进行自由切换

    •  生产模式:SmartPI 自动设置操作条件并依据所选分析程序启动测量

    •  配置模式:易于进行从扫描电子显微镜设置到颗粒分类和报告的相关设置

    •  报告模式:创建报告、处理数据及借助异常调查进行单帧交互式分析

 

SmartBrowse

    •  组合不同探测器在不同放大倍率下提供的图像,以显示与样品相关的大尺寸图像集

    •  可通过载物台坐标参考收集的图像进行浏览和导航

    •  使用不同的过滤机制和观察模式揭开隐藏信息

    •  处理一系列倾斜图像来创建三维旋转图,以便更好地掌握样品信息

    •  借助所有系统参数访问图像属性