X 射线显微镜

用于科学和工业研究

科学研究和技术开发的进步极大程度地依赖于用以表征材料性能和特性的高效成像解决方案。无论是开发与论证用于描述材料性能和特性的模型，或是简单地对结构细节信息进行成像，能以三维方式揭示微观结构的细节是关键所在。蔡司三维 X 射线显微镜（XRM）：即便是相对较大的样品，先进的成像解决方案也可以借助高衬度和亚微米分辨率出色地完成三维成像。在无损三维（3D）成像方面取得的这一系列突破性飞跃，大大拓宽了技术学科的研究范围。

亚微米级三维 X 射线显微镜中的 Xradia Versa 系列，在显微镜物镜转盘中装配 X 射线探测器用以轻松完成变倍操作，拥有 700nm 的空间分辨率和最小 70nm 的三维像素。Xradia Ultra 纳米级 X 射线显微镜系列是一款商用化的 X 射线显微镜，装配有可实现同步辐射质量的射线源，并能够提供 <50nm 的真实空间分辨率及最小 16nm 的三维像素。

为向您的 X 射线显微镜提供持续的投资保护，蔡司现在骄傲的宣布，我们能够提供扩展 Versa 和 Ultra 系统功能的升级软件。

蔡司Xradia Context microCT

蔡司Xradia Context是一款大视场、非破坏性3D X射线微米计算机断层扫描系统。凭借强大的平台和灵活的软件控制源及探测器定位，您可以在完整的三维环境中对大尺寸、重量25 kg内和高尺度样本进行成像，同样也可以对小样品进行高分辨率的成像。

蔡司Xradia CrystalCT

蔡司Xradia CrystalCT是为您揭示样品晶体信息和微观结构秘密的开创性微米CT。本产品扩展了计算机断层扫描的强大技术，使其具有展示晶体晶粒微观结构的能力，改变了研究多晶体材料（如金属、增材制造、陶瓷等）的方式，从而为您的材料研究带来更新、更深的洞见。

蔡司 Xradia 610 & 620 Versa

蔡司Xradia 610 & 620 Versa 3D X射线显微镜在科研和工业研究领域为您开启多样化应用的新高度。基于高分辨率和衬度成像技术，Xradia 610 & 620 Versa 大大拓展了亚微米级无损成像的研究界限。

蔡司 Xradia 520 Versa

亚微米X射线显微镜 Xradia 520 Versa 基于业界前沿的高分辨率和衬度成像技术，拓展了无损成像的应用局限。创新的成像衬度和图像采集技术让你自由地定位并发现您前所未见过的信息。

蔡司 Xradia 515 Versa

蔡司 Xradia 515 Versa 得益于两级放大的架构，可实现大工作距离下亚微米级分辨率成像（RaaD）。减少对单级几何放大的依赖性，在大工作距离下依然保持了亚微米级分辨率。

蔡司 Xradia 410 Versa

Xradia 410 Versa 填补了高性能三维 X 射线显微镜技术解决方案与传统低成本、低性能且基于投影的计算机断层扫描（CT）系统之间的空白。多种射线源的选择可灵活应对多种样品尺寸和样品类型的成像应用。

蔡司Xradia 800 Ultra & Xradia 810 Ultra

纳米级X射线显微镜Xradia Ultra系列采用来源于同步辐射的先进X射线光学元件，可实现吸收和Zernike相位衬度，空间分辨率50nm的三维无损成像，并能进行4D和原位实验在纳米尺度研究微观结构的演变，为您在材料研究、生命科学、自然资源和工业应用领域的研究提供洞见。

蔡司 Xradia Synchrotron 系列

蔡司在同步加速器实验室中的 X 射线显微镜装机量全球靠前，藉此不断提升先进研究机构的实力。在实验室内引入蔡司 X 射线纳米断层成像和荧光显微技术，让耗时且耗费财力的内部开发成为过去。