SmartPI
介绍
您的自动 SEM 颗粒分析与分类解决方案
颗粒的识别、分析与分类
智能颗粒分析软件 (SmartPI), 是一款先进的颗粒分析和分类解决方案, 它使扫描电子显微镜成为了工业清洁度以及钢铁与其它金属领域应用的解决方案。SmartPI 集成了 SEM 控制, 图像处理和元素分析(EDS) 的功能。
- 用一个软件控制 SEM 成像和 EDS 分析
- 运行自动、无人参与的颗粒分析
- 生成可重复的数据和符合行业标准的报告
- 将 SmartPI 与蔡司光学显微镜颗粒分析解决方案相结合，配置一个光电相关联的工作流程
- 享受蔡司全球的服务和对整个系统的支持
- SmartPI 符合 ISO 16232 和 VDA 19 的清洁度检测标准
通过能谱分析结果对颗粒进行分类
优点
根据行业需求量身定做
SmartPI 是在与汽车零部件供应商紧密合作的情况下开发的, 他们特别需要一个功能强大又易于使用的颗粒识别和分类系统。这意味着不仅要考虑到当前的工业清洁度分析要求, 而且还要考虑在大部分工业领域并非每个操作员都是显微镜专家, 并且通常设备还会部署在多个地点。
操作简单
SmartPI 自动化大大简化了操作, 所以你不必是一个显微镜专家就能获得大量可靠的数据。同时, 更有经验的操作员有能力轻松地创建或修改测试规程, 并根据具体要求量身定做分析程序。所有的测试规程、系统配置和颗粒数据都存储在一个可溯源的数据库中, 以便于数据的审阅和导出。
智能颗粒识别
SmartPI通过使用复杂的边界颗粒拼接算法, 能够对被不同视场分割开的颗粒进行检测、表征和分类。这一点非常重要, 它能够确保那些可能影响清洁度结果或者钢铁质量的大颗粒不会被漏掉。
高度集成的解决方案
在一台电脑上使用一套软件实现控制SEM成像以及EDS分析。蔡司SmartPI将所有数据保存在一起, 确保了 SEM 和 EDS 数据的完整性和高效的数据调取。即使EDS系统是由能谱供应商提供，SmartPI系统仍能享受蔡司全球服务和应用团队的支持——确保客户无忧的售后。
工作中的SmartPI
典型的 SmartPI 工作流程
EDS 探测器的能量标定
自动校准程序
SmartPI 在每次自动运行之前以及运行期间会定时执行自我诊断和自动校准程序。这确保了系统的稳定性和准确、可重复的结果。如果在自动运行期间发生中断, 例如需要更换灯丝, 自动恢复程序将启动。
形态学颗粒分割 (左) 和化学成分分类 (右)
形态学和化学成分分类
SmartPI 采用先进的图像处理和分析技术来测量每个检测到的颗粒的各种形态特征。随后使用EDS来分析确定每个颗粒的化学成分。既可以使用快速点分析模式，也可以使用蔡司特征扫描模式进行颗粒能谱分析。这种扫描模式根据颗粒形状收集数据，能够提供更准确的分类。
例如通过设置延伸率参数范围来排除纤维
测量排除
为了保持颗粒数据集的连贯性和尽可能少的运行时间, SmartPI能够在后续的图像和元素分析排除那些不感兴趣的颗粒。例如在滤膜上的细长纤维，它可能来源于环境中的灰尘, 它与制造过程产生的颗粒并无关系。
设置停止条件的页面
高级的停止条件设置
一系列高级停止条件允许在到达预定义阈值时自动结束分析。停止条件可以包括分析时间、颗粒数或视场数、颗粒尺寸、特定分类或其它可指定的条件。此功能可应用于单个或多个样品, 从而大大减少整个运行时间。实时结果窗口还允许操作员监视进度, 并决定是否需要进行干预。
使用复查模式重新检查单个颗粒, 并查看其所有属性, 包括 EDS 组成和材料分类。
交互并可回溯的颗粒分类
通过对结果进行详细的检查, 使用复查输出模式来细化和改进分类方案。还可以通过将载物台返回到相应的颗粒坐标来重新分析检查任何颗粒。
回溯分析模式允许使用新的分类标准重新评估现有的结果, 而无需重新扫描分析整个样品。
SmartPI 资源管理器导航窗口中的多颗粒视图
SmartPI 资源管理器
该独立应用程序能够浏览或搜索单个光谱、颗粒图像、单视场图像、边界颗粒或选择的其他过滤的结果。此外, SmartPI 资源管理器还包括用于存档的选项, 以及将多个视场拼合成一整张图像的蒙太奇功能。SmartPI资源管理器还可以脱机使用, 以释放占用系统分析时间。
使用SmartPI Reporter生成的VDA 19 清洁度报告
SmartPI Reporter
该独立应用程序有许多内置的工具, 可以生成专用的报告。可以通过拖放控件修改现有报告模板或选择 ISO 或 VDA 标准报告模板。一旦您完成了定义报告模板, 就可以将其保存为新的报告模板，以便将来使用。使用SmartPI Reporter可以在线立即生成报告，也可以稍后进行脱机结果分析。
推荐使用的SEM平台
EVO
扫描电子显微镜
EVO 作为常规 SEM普遍用于材料分析或工业质量保证和失效分析中。具有五轴电动载物台以及简单易用的SmartSEM软件，同时为颗粒分析应用提供了可灵活配置的成像平台。EVO可以配置可变压力模式(VP)，对于不导电样品（比如滤膜）的分析与成像不需要进行喷涂导电层，这将有利于接下来对滤膜样品进行Raman或者FTIR等其它分析项目。
Sigma 360
场发射扫描电子显微镜
选择Sigma 360 扫描电镜，通常是用户对颗粒分析的分辨率要求达到了纳米尺度。Sigma采用了Gemini镜筒技术，作为一款场发射扫描电子显微镜 (FE-SEM)，它能够提供出色的成像和分析结果。Gemini镜筒提供高分辨图像的同时，也非常适合于元素成分分析，尤其是对于磁性样品同样也可以进行分析。
