用于材料研究的Axio Observer
用于金相学的倒置显微镜系统。使用蔡司Axio Observer即可快速检测、开发和分析材料,特别是金相样品,让您尽享倒置设计的优势。Axio Observer将高品质蔡司光学元件与自动化组件相结合,提供可靠且可重复的结果。通过专用软件模块,您可以分析非金属夹杂物(NMI)和晶粒尺寸等数据。Axio Observer是适合您的开放式成像平台,您只需购买目前所需的功能。
产品优势
节省金相检测时间
尽享倒置光学设计的优势
- 利用Axio Observer缩短样品制备和检测时间。
- 其倒置光学设计便于平行对准物镜,您只需将样品放在载物台上,对焦一次,并为之后的放大和样品保持该对焦状态,便可以更短的时间观察更多的样品。
- 即使在改变放大倍率或切换冶金样品时,也无需重新对焦。
可靠结果值得信赖
获得出色的图像质量
- Axio Observer的稳定成像条件将为您带来全新的体验,在高放大倍率下工作时更能提供出色表现。全观察视野下的均匀照明保证了高图像质量。
- 通过各种蔡司光学元件和自动化组件的组合,每次都能获得可靠且可重复的结果。
- 利用NMI、Grains、Multiphase等专用软件模块进行金相结构分析,确保快速成像。
升级您的系统
尽享开放式平台带来的优势,只需购买目前所需的功能
- 根据预算灵活选择。对于Axio Observer,只需购买目前所需的功能。
- 当需求改变时,您可以随时升级系统。
- 有编码或电动组件及一系列配件任您选择,您可以放心使用应用所需的所有相关观察方式。
主机架
有三种自动化和电动化程度不同的配置可供选择
Axio Observer 7材料
配备电动2轴对焦、自动组件识别(始终识别您选择的物镜和滤光片组的设置)、触摸屏显示和遥控器(如有需要)。
Axio Observer 5材料
几乎所有组件均可读出,甚至实现电动化。
Axio Observer 3材料
配备编码物镜转盘、光强管理器、可读取放大图像的CAN和USB接口。
观察方式选择
- 在明暗场中都能获得均匀且无杂散光的图像背景,大大降低了杂散光干扰和色差。
- 使用固定分析仪、可360°旋转的测量分析仪及带旋转全波片的旋转分析仪,通过偏光观察方式对样品进行检测。即使没有旋转载物台,也可查看各向异性材料的双反射性及多色性。
- 充分利用圆微分干涉相差(C-DIC)——一种使用圆偏光的偏光技术。
图片说明:巴克蚀刻铝,反射光,圆偏光观察方式,物镜:EC Epiplan – NEOFLUAR 5s / 0.13 HD DIC。
应用
球墨铸铁中的球晶石墨,反射光,明场
铸铝硅,反射光,暗场
巴克蚀刻铝,反射光,C-DIC
锌,反射光,λ波片偏光观察方式
红砷镍矿,反射光,λ波片偏光观察方式