ZEN core
介绍
ZEN core处理的不仅仅是显微镜成像, ZEN core还是集成像、图像分割、分析和数据连接工具于一体的全面软件套件,用于互联材料实验室中的多模态显微技术。
易于配置,易于使用
受益于自适应用户界面。
高级成像和自动分析
使用内置采集程序,充分利用可重复工作流程的一致性。
连接实验室的基本解决方案
您可将来自不同仪器、不同实验室和不同地点的重要数据整合到一起。
优点
从入门级别的体视显微镜到全自动成像系统,ZEN core为蔡司显微镜和相机提供统一用户界面。ZEN core在多模态工作流中实现了光学与电子显微镜之间的关联,并在不同系统、实验室及地区之间实现了互相连通。
- 显微镜和相机控制
- 数据采集和分析
- 关联显微技术
- 后期图像分析
- 自动图像分割
- 全景分析
- 综合报告
- 移动端访问
- 中央数据管理
- 系统、实验室与地区之间的连通
- 进一步分析的接口
确保数据可重复性和完整性的用户管理
- 根据您的需求,创建多个包含定义权限和角色的用户帐户。
- 直接在ZEN core中创建和管理用户,或连接到ActiveDirectory并重复使用这些用户帐户。
- 使用ZEN Data storage作为所有互联显微镜的中心枢纽,有效管理所有用户。
- 使用密码保护访问,并利用扩展功能来设置密码规则和到期时间。
执行自动分割、全景分析和报告
ZEN analyzer是ZEN core的桌面版本,专为离线分析而设计。您的仪器不会被阻止进行后处理任务。相反,可使用它来运行其他实验。
- 适用于图像分割和分析以及报告和工作模板创建的理想解决方案。
- 提供ZEN Data storage的远程访问。
- 使您能够使用ZEN core中的所有可用工作台,从而控制所有数据和模板,而且可从您的桌面访问。
材料模块
适用于金相学应用的材料模块
ZEN core包括用于测定晶粒尺寸、物相和层厚以及用于石墨颗粒分级和非金属夹杂物分析的材料模块,在统一的用户界面下提供所有重要的金相学应用。
铸铁分析
根据材料工艺参数和化学成分,铸铁中的石墨颗粒可能出现不同的形状和分布。这一点会影响材料的机械性能。
全自动分析石墨颗粒的形状和尺寸。根据EN ISO 945-1:2008 + Cor.1:2010获取石墨的球墨数量。同时,可测定蠕虫状石墨的球化率,并且获取石墨颗粒的面积百分比含量。
晶粒尺寸分析
晶粒尺寸和分布直接关系到材料性能。依据国际标准,量化您的材料学样品的晶体结构。以下三种评估方法可量化表征您的材料:
面积法:可用于自动晶界重构
截距法:使用大量不同的弦类型,以交互方式识别和计数与晶界交叉点
比较法:使用标准比对图谱手动评估图像晶粒度
多相分析
在材料中,任一带有明显晶体结构的部分都可被称为“相”。相与相之间有明显的边界分割。相的分布和取向影响诸如硬度、强度、断裂延伸率等材料性能。
分析样品的相分布。全自动且精准地测定相的尺寸、形状和取向。使用此分布分析还可获取有关增材制造材料孔隙分布的信息。
涂层厚度测量
测量涂层和镀层的厚度,或者样品横截面中的表面硬化深度。
该模块能够以自动或交互方式评估复合涂层系统,并根据当前梯度计算测量弦的长度。在包含图像、样本数据和测量值的清晰报告中获取零件的结果,例如最大和最小弦长、平均值和标准偏差。
非金属夹杂物分析(NMI)
NMI的金相分析要遵循行业标准,ZEN core支持该行业标准。ZEN core可引导用户快速轻松地执行工作流程,生成符合标准的报告和夹杂物图库。
强大的检验视图和自动轴变形检测功能使分析变得轻松、直观并且可重复。通过利用额外的GxP功能,ZEN core用户能够在NMI分析中为客户提供完整的可追溯性和数据整合性,这意味着可对等级认证进行审查,这对于受监管行业的客户尤为有利。
比对图谱
该模块让您的挂图实现数字化。通过比对图谱,在您的屏幕上直接比较显微镜下的样品,并从具有特定特征的不同图谱中做出选择。这些与晶粒尺寸、钢中碳化物析出或制备样品质量相关的内容将逐图渐次变化。
此外,该模块还提供图谱系列生成器供您自行设计比对图谱,例如针对质量控制中的合格/不合格标准设计比对图谱,或针对单个材料微观结构制备目标图像。
模板包